O Bloco de Testes LTS (Long Test Switch) foi desenvolvido para desconectar de forma segura os IED’s do sistema e proporcionar acesso para testes. Compatível com retrofit de chaves FT nos mesmos rasgos de painel, ou em qualquer outra aplicação que necessite de Blocos de Testes ou Chaves de Aferição, o LTS proporciona diversos benefícios.
Abertura de contatos e curto circuito de TC’s de forma segura através do padrão make-before-break estão disponíveis por meio dos pinos de desconexão inclusos. Receptáculos para pinos do tipo Banana proporcionam acesso para os testes. Pentes de Testes não são necessários, mas estão disponíveis como acessório opcional. Esta solução se traduz em redução de custos, prevenção de erros e grande flexibilidade para diferentes aplicações.